Sigrity X 高级信号完整性（SI）技术为 PCB 和 IC 封装设计提供前沿的信号完整性分析功 能，覆盖直流（DC）至 56GHz 以上频段，并具备自动芯片间（die-to-die）信号完整性分析、拓扑结构探究以及高速接口 仿真等高级特性。该技术支持 IBIS-AMI 模型（输入 / 输出缓冲信息规范 – 算法建模接口模型）和可自定义合规套件，在借 助频域、时域及统计分析方法的同时，确保您的设计符合严苛标准。

✓ 精准处理非理想供电系统对信号完整性（SI）的影响。

✓ 同时评估信号完整性（SI）影响，例如损耗、反射、串扰以及同步开关输出（SSO）。

✓ 支持行业标准的 IBIS-AMI（输入 / 输出缓冲信息规范 – 算法建模接口）发射机与接收机模型，可对采用多家供 应商芯片的串行链路进行通道行为仿真。

✓ 高度自动化的测量与报告生成功能